日立 FT160 系列X射線螢光鍍層厚度測量儀

產品型號：FT160S/ FT160Sh/ FT160/ Ft160h/ FT160L/ FT160Lh

攤位號碼：K-802

新推出的奈米級X-Ray膜厚量測儀FT160系列，配置了聚焦光學系統（光學管）和矽漂移檢測器（SDD），加強樣品的照明系統，不僅操作上更加容易，擁有優異的解析能力，多款式機型可依據鍍層應用不同及樣品大小提供選擇，在量測工作上能夠提供更多的幫助。